日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執行的《環境安全條例》中用于土壤污染調查(重金屬等)的簡單快速分析技術(簡單分析方法)。
■用于工廠現場的土壤分析... ●可以進行無損且快速的成分分析。 ●緊湊輕巧,因此可以進行現場分析。 ●提高了針對中,重金屬元素的靈敏度。 ●Utility僅適用于AC100V-5A。 ●設備內部是受控區域。
能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品,并使用半導體檢測器測量產生的X射線熒光,因此無論樣品的形狀如何,它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器(SDD),并且可以與數字計數電路(DSP)結合使用以測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能,準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數靈敏度z大化的激發光學系統的條件。
日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
測量原理 | 能量色散X射線熒光分析方法 |
測量目標 | 用于土壤分析的環境樣品(固體/粉末/液體) |
測量元件 | 硫,鉻,砷,硒,鎘,汞,鉛(13 AI- 92 U) |
樣品形狀 | z大78mmφx 55mmH |
樣品室氣氛 | 氣氛 |
X射線額定輸出 | 48kV,2mA高達50W |
探測器 | 電子冷卻的硅漂移檢測器 |
計數電路 | 數字處理方式 |
使用條款 | 溫度:5至27°C 濕度:20至75% 電源:AC100V,5A(50 / 60Hz) 接地:D類接地 |
其他(可選) | 噴墨彩色打印機,鼠標 |