日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000
使用熱探針的塞貝克系數和熱導率的二維分布測量裝置。
該設備是一種分布測量設備,可以同時評估塞貝克系數和熱導率。同時評估可以輕松評估熱電特性。還可以評估功能梯度材料,多層基板和有機材料的熱導率分布。
有望用作材料評估的基本工具。
日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000
測量溫度 | 室溫+ 5℃ |
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大樣本量 | 大角度20毫米x厚度5毫米 |
塞貝克系數精度 | ±10%(單個散裝樣品的厚度為1 mm) |
導熱精度* | ±50%(單個散裝樣品的厚度為1毫米) |
1點測量時間 | 少于10秒 |
本地分辨率 | 20微米 |
位置控制分辨率 | 1微米 |
樣品移動距離 | x軸50mm,y軸50mm,z軸10mm |
電源 | AC100V 15A(不包括PC)W |
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外形尺寸(主體) | 寬510 x深650 x t460(毫米) |
重量 | 約70kg |
安裝面積 | 大約W1200 x D700(mm)*桌子 |