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日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產品型號:

所屬分類:其他設備

產品時間:2024-09-07

簡要描述:日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀:DUORES
根據測量目標交換和使用兩種類型的探頭(無損探頭和接觸探頭)。

詳細說明:

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產品特點

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀:DUORES

根據測量目標交換和使用兩種類型的探頭(無損探頭和接觸探頭)。

•世界上首ge可替換和使用兩種類型的探頭(無損型和接觸型)的便攜式座位電阻測量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動進行測量
•電池連續(xù)工作時間:24小時(*電池)使用時)
•顯示的數據數量:多100(*從xin數據顯示)

•存儲的數據數量:多50,000(*軟件顯示屏)
•測量數據傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類型的顯示單位(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉換]), 4位浮動小數點(0.000到9999)

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

測量規(guī)格

測量目標

薄膜,玻璃,紙材料等
通常,可以在測量范圍內測量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,石墨烯材料
•金屬材料(納米線,網格,網眼)
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
(* 大于每個探頭的測量點尺寸)

<測量點>

?無損探棒(渦電流型):φ25mm

?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米

測量范圍

?無損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探法):0.1 -4000Ω/ sq

?



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