日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
測量了在非磁性金屬(鋁,銅,黃銅)上的非導電膜,在鋼上的各種鍍層,在非金屬上的銅,鍍銀等,它們在基底和膜之間的導電性差異很大。它可以實現高度穩定和高精度的膜厚測量。
?可以在短時間內進行檢查
?由于無損,因此非常適合100%檢查
?采用晶體振動法,精度高
?可以測量10 nm以上的非金屬沉積
日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
渦流膜厚儀DMC-211
高速和可操作性
短時間,無損測量適合100%檢查
?在1秒內進行無損測量,非常適合100%檢查
?使用個人計算機進行校準
?測量等簡便操作?只需將探頭放到測量對象上即可自動捕獲測量值
?特性曲線(校準曲線)
每個通道注冊了70個標準存儲器,公司名稱,零件號,批號
通過安裝自動捕獲模式,可以輕松測量膜厚。PC顯示器。
數字顯示測量值,讀數
在短時間內(1秒以內),大多數金屬上的膜(鋁上的氧化膜,鋅/鉻鍍層/鐵上的油漆),大多數非金屬上的金屬膜(塑料上的鍍層等)無損測量使其成為100%檢查的理想選擇。
使用個人電腦易于操作
通過使用個人計算機,諸如校準和測量的操作容易。可以選擇各種測量模式,從而更容易測量小零件,例如螺釘頭,線材和壓鑄產品。
配備[自動拍攝]模式
在[自動采集]模式下,您只需將探頭放在要測量的對象上并釋放它,就可以自動加載測量值。
特征曲線(校準曲線)的大量存儲
作為標準配置,用于自動選擇的70條特性曲線(校準曲線)存儲在存儲器中。如果您有用于特殊材料的標準板,則可以創建并輸入新的特性曲線(校準曲線)。
渠道注冊功能獲取公司信息
可以為每個通道注冊對方的公司名稱,零件號和批號。
總頻道:40個頻道
配備統計處理功能
可以保存每個通道的測量數據,然后可以設置統計項目并進行統計處理。
測量單位
測量單位為毫米,微米,密耳,密耳。
單位可以隨時更改,測量值將自動轉換。
當使高頻電流通過的探針(測量元件線圈)接近金屬時,在金屬表層產生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強度,頻率,金屬的電導率,厚度,形狀等的影響,并且穿透深度和其尺寸不同。 渦流流動從而抵消了探頭的高頻磁場,因此探頭的高頻電阻值發生了變化。高頻電阻變化的幅度通常與薄膜厚度不成比例,因此請將其與內部或用戶創建的特性曲線(校準曲線)進行比較,然后將其轉換為薄膜厚度值。顯示它。 |
型號(主體) | Dermes DMC-211型 |
原理 | 渦流法 |
測量方式 | 厚度測量 |
通道數 | 40個頻道 |
資料容量 | 100,000個數據 |
顯示 | 通過電腦監控畫面 |
統計處理 | 大值,小值,平均值,標準差,直方圖,上限和下限設置 |
電源供應 | AC100-240V,50 / 60Hz 10VA(主體) |
重量 | 3.0公斤 |
尺寸 | 280(寬)x 230(深)x 88(高)毫米 |
(注)規格如有變更,恕不另行通知。
1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5毫米 φ3毫米 |
2.探針線的長度 | 900毫米 |
3.根據導軌的類型可以在曲面上進行測量 | |
4.探頭類型 | MP型...用于平凹曲面(標準) SM型...用于平凹曲面(超細) RP型...凹曲面,管道內表面 SR型…小直徑管道內表面對于 上述探頭,A,B有四種類型,C和D。 |
5.探針指南 | #180:用于平面測量 #120:用于直徑25-60mm的凸曲面測量 |
渦流膜厚儀DS-110
您可以測量曲面和球體以及管道內部。
渦流膜厚儀D-20
便攜式且緊湊。只需更換刻度盤,它就可以用作的測量儀器。