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日本標準型薄膜測試儀連續測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

發布時間:2022-03-25 點擊量:804

日本標準型薄膜測試儀連續測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測厚儀,又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等,薄膜測厚儀專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

薄膜測厚儀根據其測量方式的不同,可分為:
接觸式薄膜測厚儀:點接觸式,面接觸式。
非接觸式薄膜測厚儀:射線,渦流,超聲波,紅外等
注:我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標準,包括國家標淮,國際、美國、日本、歐洲標準等均規定采用機械式測厚中的面接觸測厚的方式,同時該方法也被作為薄膜,鋁箔,紙張等材料的仲裁方法。



配備高精度測量頭和放大器單元的機器。
只需設置從生產線切出的薄膜,即可輕松連續測量厚度。

FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm