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樣品缺陷檢測用熱成像的可視化和可量化數據分析技術

發布時間:2021-11-10 點擊量:752

樣品缺陷檢測用熱成像的可視化和可量化數據分析技術


熱成像范圍 TSI

提高能效是節能減排的重要課題。該設備針對電子設備的功耗問題,通過對設備內部的熱特性進行可視化和量化,可以評估界面的熱擴散率。此外,金剛石和 DLC 因其高導熱性而受到關注,以節省能源,但評估允許熱量從其界面逸出的熱擴散率非常重要。此外,據說這些物質之間界面的粘附影響性能。該設備旨在通過熱評估界面的附著力。

特征

  • 激光加熱功能

  • 微距攝影光學系統(分辨率約 20 μm)

  • 高性能紅外相機(7.5 μm 至 13.5 μm)

  • *的降噪技術


主要規格


TSI-2
基本性能測量對象樣品缺陷、異質性、紅外輻射、簡單溫度、熱特性
輸出數據頻率、距離、幅度、相位、亮度、圖像數據
分析模式點/區域分析、相分析
附其他調溫加熱器、控制/分析軟件、PC
測量環境溫度室溫~250[℃]
測量頻率0.1 至 10 [赫茲]
紅外相機元素數量336 × 256
元素類型VOx微測輻射熱計
像素大小17 [微米]
觀測波段7.5 至 13.5 [μm]
幀率30 [赫茲]
解析度約 30 [μm]
半導體激光器(連續振蕩)波長808 [納米]
最大輸出5 [W]
正弦波調制0.1 至 30 [赫茲]
舞臺運動范圍水平(XY軸)方向± 15 [毫米]
垂直(Z 軸)方向+50 [毫米]
電源AC100-240 [V], 10-5 [A], 50/60 [Hz]
設備主體外形尺寸W552 x D602 x H657 [毫米]
重量76.5 [公斤]
激光安全標準CLASS1, IEC / EN 60825-1: 2007