日本snk細顆粒可視化技術
ViEST 通過追求寬大的靈敏度特性不斷更新最高靈敏度,以便在現場的各種限制下可視化細顆粒。那就是“細顆粒可視化技術"。
下圖根據米氏散射理論公式繪制了散射光強度與粒徑的關系圖。可以看到橫軸變化了2位數,縱軸變化了6位數。我們利用并銷售一種超靈敏系統,該系統已成功在暗室中可視化 80 nm 細顆粒以進行實驗,這也在此圖表之外。
散射光強度與粒徑的關系
20多年來,我們繼承了專業的技術人員,他們在客戶的制造和開發現場進行了800多次拍攝和評估的記錄。如果你問你想可視化什么樣的細顆粒,只有一個技術組有可靠的答案。